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Model 2520
펄스 레이저 다이오드 테스트 시스템
(원격 전기적 테스트 헤드 포함)
모업계 유일의 펄스형 LIV 테스트 시스템 디바이스의 발열을 방지
모델 2520의 소스와 측정시 빠른 동기화 성능은 500 ns 펄스 폭을 이용한 테스트에서도 측정의 정밀도를 보장합니다. 이 제품은 펄스형 LIV 테스트의 경우 최대 4A까지, 연속 LIV 테스트의 경우 최대 1A까지 가능하며 이러한 기능에 의해 모델 2520은 광범위한 레이저 다이오드 테스트에 적용될 수 있습니다. 메인 프레임 및 원격 테스트 헤드 아키텍춰는 펄스형 측정의 정확도를 향상 시킬 수 있습니다.
모델 2520의 주요기능
- 패키징 또는 능동적인 온도 제어 이전에 레이저 다이오드 LIV 테스트의 간소화
- 레이저 다이오드의 칩 또는 바(bar) 상태에서의 공정 중 LIV 생산 테스트를 위한 통합 솔루션
- 펄스형 및 DC 테스트를 위한 정밀한 소스 및 측정 능력을 결합
어플리케이션 분야
- 통신 레이저 다이오드
- 광학 스토리지 판독 / 기록 헤드 레이저 다이오드
- 수직 공동면 발광 레이저 (VCSELs)
- 열 임피던스
- 접합 온도반응
관련 자료
| 데이터 시트 | Model 2520 Pulsed Laser Diode Test System |
| Model 2520INT Integrating Sphere for Pulsed Measurements | |
| 어플리케이션 노트 | Pulsed LIV Testing of Low Power Optical Devices with a Model 25 |
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(우)07299 서울특별시 영등포구 경인로 775 (문래동 3가, 에이스하이테크시티 3동 2층)
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